Calibration standard for high-resolution X-Ray Diffraction

Art. Nr.NIST-2000
Verkaufseinheit1 block
TransportdatenNo Dangerous Good /not restricted

Weitere Informationen
This Standard Reference Material® (SRM®) provides the high-resolution X-ray diffraction (HRXRD) community with International System of Units (SI) traceable Si (220) d-spacing in transmission, surface-to-crystal-plane wafer miscut, and surface-to-Si (004) Bragg angle in reflection for our reference wavelength. A unit of NIST-2000 consists of 25 mm × 25 mm × 0.725 mm double-polished (100)-oriented, single-crystal Si specimens with a nominal 50 nm Si0.85Ge0.15 epitaxial layer and 25 nm Si cap. These certified values can be used to calibrate HRXRD instrumentation.
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Text/InformationAnalyt/ParameterCAS NummerKonzentration/WertEinheitMethodeQuelle
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