Artikelnr.
NIST-2842
Einheit
disc
Transportdaten
No Dangerous Good /not restricted
Zurück zu Ihrem Suchergebnis
Beschreibung
This Standard Reference Material (SRM®) is intended for use as a reference standard for analytical methods that measure the composition of thin films, such as electron microprobe analysis (EMPA), photoluminescence (PL), auger electron spectroscopy (AES) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). A unit of NIST-2842 consists of an epitaxial layer of AlxGa1-xAs with certified Al mole fraction x grown on a gallium arsenide (GaAs) substrate mounted to a stainless steel disk by the use of adhesive tape. Each unit is sealed in a Mylar envelope containing a nitrogen atmosphere. /// Sample value(s) - please ask for current certificate.
Inhalte
Weiteres
Zertifikatmuster
Muster-CoA des Referenzmaterials: für die aktuelle Charge kontaktieren Sie unseren Kundendienst unter info@labmix24.com
Produktdatenblatt
Alle Details zum Produkt z.B. Analyte/Parameter, CAS-Nummer, Konzentration/Wert, Einheit/Format, Methode, Quelle…
NIST bietet über 1300 Standardreferenzmaterialien sowie Artikel und Praxisleitfäden, die die Entwicklung, Analyse und Verwendung von SRMs beschreiben.
NIST-Standardreferenzmaterialien werden von analytischen Laboratorien in Industrie, Wissenschaft und Regierung verwendet, um Handel und Gewerbe zu erleichtern und Forschung und Entwicklung voranzutreiben. Die SRMs werden vom Ingenieurlabor, dem Materialmesslabor und dem physikalischen Messlabor des NIST hergestellt. Sie stehen für chemische Zusammensetzung, physikalische Eigenschaften und technische Materialien zur Verfügung.