Artikelnr.
NIST-2000
Einheit
1 block
Transportdaten
No Dangerous Good /not restricted
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Beschreibung
This Standard Reference Material® (SRM®) provides the high-resolution X-ray diffraction (HRXRD) community with International System of Units (SI) traceable Si (220) d-spacing in transmission, surface-to-crystal-plane wafer miscut, and surface-to-Si (004) Bragg angle in reflection for our reference wavelength. A unit of NIST-2000 consists of 25 mm × 25 mm × 0.725 mm double-polished (100)-oriented, single-crystal Si specimens with a nominal 50 nm Si0.85Ge0.15 epitaxial layer and 25 nm Si cap. These certified values can be used to calibrate HRXRD instrumentation.
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Zertifikatmuster
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Produktdatenblatt
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NIST bietet über 1300 Standardreferenzmaterialien sowie Artikel und Praxisleitfäden, die die Entwicklung, Analyse und Verwendung von SRMs beschreiben.
NIST-Standardreferenzmaterialien werden von analytischen Laboratorien in Industrie, Wissenschaft und Regierung verwendet, um Handel und Gewerbe zu erleichtern und Forschung und Entwicklung voranzutreiben. Die SRMs werden vom Ingenieurlabor, dem Materialmesslabor und dem physikalischen Messlabor des NIST hergestellt. Sie stehen für chemische Zusammensetzung, physikalische Eigenschaften und technische Materialien zur Verfügung.