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XRF Drift Monitors Rare Earths - 39 elements - 40mm

Artikelnr.

XRFS-1201090-40MM

CAS-Nummer

39 Analyte

Einheit

disc

Transportdaten

No Dangerous Good /not restricted

Preis auf Anfrage

Beschreibung

The concentrations listed are not certified and the disk should not be used to establish a calibration. This disk is to be used for day to day monitoring of the stability of XRF spectrometers.

Inhalte

Analyt	CAS-Nummer	Konzentration	Einheit	Zusätzliche Informationen
Al2O3	k. A.	3,6	%	Aluminium oxide
BaO	k. A.	0,4	%	Barium oxide
Bromine (Br)	[7726-95-6]	0,2	%	Bromine
CaO	k. A.	0,4	%	Calcium oxide
CeO2	k. A.	5,1	%	Cerium oxide
Chlorine (Cl)	[7782-50-5]	0,2	%	Chlorine
Dy2O3	k. A.	0,5	%	Dysprosium oxide
Er2O3	k. A.	0,4	%	Erbium oxide
Eu2O3	k. A.	0,5	%	Europium oxide
Fluorine (F)	[7782-41-4]	0,5	%	Fluorine
Gd2O3	k. A.	0,5	%	Gadolinium oxide
HfO2	k. A.	0,3	%	Hafnium oxide
Ho2O3	k. A.	0,1	%	Holmium oxide
Fe2O3	k. A.	2,5	%	Iron oxide
La2O3	k. A.	2,1	%	Lanthanum oxide
PbO	k. A.	0,3	%	Lead oxide
Lu2O3	k. A.	0,2	%	Lutetium oxide
MgO	[1309-48-4]	3,8	%	Magnesium oxide
MnO	k. A.	0,1	%	Manganese oxide
Nd2O3	k. A.	1,6	%	Neodymium oxide
NiO	k. A.	0,2	%	Nickel oxide
Nb2O5	k. A.	0,7	%	Niobium oxide
P2O5	k. A.	7,5	%	Phosphorus oxide
K2O	k. A.	0,7	%	Potassium oxide
Pr6O11	k. A.	0,5	%	Praseodymium oxide
Sm2O3	k. A.	0,4	%	Samarium oxide
Sc2O3	k. A.	0,1	%	Scandium oxide
SiO2	k. A.	7,5	%	Silicon oxide
Na2O	k. A.	2	%	Sodium oxide
SrO	k. A.	0,2	%	Strontium oxide
SO3	k. A.	0,7	%	Sulphur oxide
Tb2O3	k. A.	0,3	%	Terbium oxide
ThO2	k. A.	0,7	%	Thorium oxide
Tm2O3	k. A.	0,4	%	Thulium oxide
TiO2	k. A.	1,4	%	Titanium oxide
UO2	k. A.	0,4	%	Uranium oxide
Yb2O3	k. A.	0,5	%	Ytterbium oxide
Y2O3	k. A.	5,5	%	Yttrium oxide
ZrO2	k. A.	0,2	%	Zirconium oxide

Weiteres

Zertifikatmuster

Muster-CoA des Referenzmaterials: für die aktuelle Charge kontaktieren Sie unseren Kundendienst unter info@labmix24.com

Produktdatenblatt

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