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Nickel-chromium thin film - Depth profile

Artikelnr.

NIST-2135c

Einheit

each

Transportdaten

No Dangerous Good /not restricted

Preis auf Anfrage

Beschreibung

This Standard Reference Material (SRM®) is intended primarily for calibrating sputtered depth scales and erosion rates in surface analysis. Its periodic structure, consisting of eight well-defined metal/metal interfaces, can be used to obtain accurate calibration at a number of depths. NIST-2135c is certified for total Chromium (Cr) and Nickel (Ni) thickness, single element layer-to-layer uniformity, Ni and Cr bilayer uniformity (periodicity) and single layer thickness. /// Sample value(s) - please ask for current certificate.

Inhalte

Analyt	Konzentration	Einheit	Zusätzliche Informationen
Total Thickness	206,3 ± 13,8	µg/cm2	Cr
Total Thickness	197,4 ± 9,6	µg/cm2	Ni
Layer-to-Layer Uniformity	0,8	%	Single Cr Layer
Layer-to-Layer Uniformity	0,9	%	Single Ni Layer
Layer-to-Layer Uniformity	0,6	%	Bilayer
Single Layer Thickness	41,3 ± 2,8	µg/cm2	Cr
Single Layer Thickness	49,4 ± 2,6	µg/cm2	Ni

Analyt

CAS-Nummer

Konzentration

Einheit

Zusätzliche Informationen

Methode

Total Thickness

206,3 ± 13,8

µg/cm2

Total Thickness

197,4 ± 9,6

µg/cm2

Layer-to-Layer Uniformity

0,8

Single Cr Layer

Layer-to-Layer Uniformity

0,9

Single Ni Layer

Layer-to-Layer Uniformity

0,6

Bilayer

Single Layer Thickness

41,3 ± 2,8

µg/cm2

Single Layer Thickness

49,4 ± 2,6

µg/cm2

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Zertifikatmuster

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NIST-Standardreferenzmaterialien werden von analytischen Laboratorien in Industrie, Wissenschaft und Regierung verwendet, um Handel und Gewerbe zu erleichtern und Forschung und Entwicklung voranzutreiben. Die SRMs werden vom Ingenieurlabor, dem Materialmesslabor und dem physikalischen Messlabor des NIST hergestellt. Sie stehen für chemische Zusammensetzung, physikalische Eigenschaften und technische Materialien zur Verfügung.