Rastersondenmikroskopie - Proben und Zubehör

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Art. Nr.BezeichnungEinheitPreis
TIPS-,VIT_P_C-A/25TOP VISUAL High Resolution Contact Silicon AFM Cantilevers VIT_P_C-A series are specially designed for tip or laser spot precise positioning over the point of interestSet of 25 cantileversBitte anfragenDetails
TIPS-BIOSET - 50AFM probe setssetBitte anfragenDetails
TIPS-BIOSET-200AFM probe setsetBitte anfragenDetails
TIPS-CO_QTZ1 test sample for Nanoindenter1 test sampleBitte anfragenDetails
TIPS-CSC05/10Whisker Type High Aspect Ratio Contact Silicon AFM Cantilevers CSC05 series, resonant frequency 8-39kHz, force constant 0.01-0.05N/m, whisker length 0.4 µm10 separated chipsBitte anfragenDetails
TIPS-CSC05/15Whisker Type High Aspect Ratio Contact Silicon AFM Cantilevers CSC05 series, resonant frequency 8-39kHz, force constant 0.01-0.05N/m, whisker length 0.4 µm15 separated chipsBitte anfragenDetails
TIPS-CSG01/100High Resolution Contact Silicon AFM Cantilevers CSG01 series, resonant frequency 4-17kHz, force constant 0,003-0,13N/m - separated chips100 separated chipsBitte anfragenDetails
TIPS-CSG01/15High Resolution Contact Silicon AFM Cantilevers CSG01 series, resonant frequency 4-17kHz, force constant 0,003-0,13N/m - separated chips15 separated chipsBitte anfragenDetails
TIPS-CSG01/200High Resolution Contact Silicon AFM Cantilevers CSG01 series, resonant frequency 4-17kHz, force constant 0,003-0,13N/m - separated chips200 separated chipsBitte anfragenDetails
TIPS-CSG01/400High Resolution Contact Silicon AFM Cantilevers CSG01 series, resonant frequency 4-17kHz, force constant 0,003-0,13N/m - separated chips300 separated chipsBitte anfragenDetails
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